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双模式局部放电检测：通过交流PD和脉冲PD进行可靠检测
● 使用高频 CT 进行抗干扰局部放电测试
● 与高压继电器盒 SW2001 兼容
● 使用高频 CT 进行抗干扰局部放电测试
● 与高压继电器盒 SW2001 兼容
| 类型： | 安规测试 | |
| 品牌： | 日置(HIOKI) | |
| 型号： | ST4200 | |
局部放电检测仪ST4200
返回上一页双模式局部放电检测仪，用于检测电机内部的潜在绝缘不良● 双模式局部放电检测：通过交流PD和脉冲PD进行可靠检测
● 使用高频 CT 进行抗干扰局部放电测试
● 与高压继电器盒 SW2001 兼容
交流PD测量
| 检测方式 | 使用符合IEC 60270 与 IEC 60034-27-1标准的检测阻抗与带通滤波器的放电电荷量测量方式 |
|---|---|
| 测试频率范围 (施加电压) | 45 Hz ～ 1.1 kHz |
| 电荷量测量范围 （Q） | 10 pC ≦ Q ≦ 500 pC（被测物静电电容 C：200 pF ≦ C < 2 nFにおいて） 10 pC ≦ Q ≦ 2500 pC（被测物静电电容C：2 nF ≦ C ≦ 10 nFにおいて) |
| 测量项目 | 【通常模式】 重复发生的最大PD强度(Q max)，PD脉冲发生数(m，m+，m-)，PD脉冲发生率(n)，电压有效值(U rms)，电压波高值(Up+，Up-)，平均放电电流(I)，放电功率(P)，二次率(D)，PD脉冲的表观电荷(q)，PD脉冲相位角(φ) 【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值) PD起始电压(Ui)、PD熄灭电压(Ue) |
脉冲PD测量
| 检测方式 | 基于IEC 61934 Edition 2.0 以及IEC 60034-27-5，通过CT和数字滤波检测放电电流 |
|---|---|
| 采样速度 | 200 MS/s |
| 测量项目 | 【通常模式】 PD峰值放电量(Qpk)、脉冲序列中的PD发生数(m) 【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值) PD发生起始电压(PDIV)，重复PD发生起始电压(RPDIV)，重复PD熄灭电压(RPDEV)，PD熄灭电压(PDEV)，重复PD峰值放电量(RQpk) |
高压发生源控制
| 控制内容 | 作为局部放电的高压发生源，会用到绝缘耐压测试仪、脉冲线圈测试仪去联动控制 |
|---|---|
| 对应仪器 （2025年2月为止） | 自动绝缘/耐压测试仪3153、脉冲线圈测试仪ST4030、ST4030A等 |
| 测量项目 | 【通常模式】 PD峰值放电量(Qpk)、脉冲序列中的PD发生数(m) 【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值) PD发生起始电压(PDIV)，重复PD发生起始电压(RPDIV)，重复PD熄灭电压(RPDEV)，PD熄灭电压(PDEV)，重复PD峰值放电量(RQpk) |
交流PD，脉冲PD通用测量
| 测量模式 | 普通模式：施加一定电压，进行单次或连续测量 PDIV模式：根据标准的要求，在改变施加电压的同时进行测量 |
|---|---|
| 功能 | 判定功能，图表显示功能（交流PD：电压波形、PD脉冲监视器/脉冲PD：电流波形、PD脉冲监视器） |
| 外部存储设备 | SD 存储卡、U盘、SSD ※请务必使用本公司的选件。 |
| 放射性无线频率 | 50 pC以下（在10 V/m时） |
| 电磁场的影响 | 50 pC以下(在10 V时) |
| 传导性无线频率电磁场的影响 | 50 pC以下(在10 V时) |
| 叠加到电源上的脉冲干扰的影响 | 50 pC以下(1kV，叠加脉宽50 ns的脉冲干扰时) |
| 接口 | LAN, USB, RS-232C（请使用市售USB串行转换线）, EXT. I/O, MONITOR输出 |
| 电源 | 额定电源电压：AC 100 V～240 V, 额定功率：300 VA |
| 尺寸·体积 | 约353（W）×约235（H）×约154.8（D） mm（不含突起物）, 约7.3 kg（安装U8332时）, 约7.1 kg（未安装U8332时） |
| 附件 | 电源线 × 1, 启动指南 × 1, 使用注意事项 × 1 |
